Erakusten 1 - 3 emaitzak -- 3 bilaketa honetara '"External testing."', Bilaketaren denbora: 0,02s Findu emaitzak
  1. 1

    Testing the monster chip. nork Zorian, Y.

    Argitaratua izan da IEEE spectrum
    Artikulua

    Testing the monster chip.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. nork Jas, A.

    Argitaratua izan da IEEE Transactions on VLSI systems
    Artikulua

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. nork Jas, A.

    Argitaratua izan da IEEE Transactions on VLSI systems
    Artikulua

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

Bilaketa egiteko lanabesak: