Εμφανίζονται 1 - 2 Αποτελέσματα από 2 για την αναζήτηση '"Transistor reordering."', χρόνος αναζήτησης: 0,01δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    Gate oxide leakage and delay tradeoffs for dual-Tox circuits. ανά Sultania, A.K

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Gate oxide leakage and delay tradeoffs for dual-Tox circuits.
  2. 2

    Technology mapping for SOI domino logic incorporating solutions for the parasitic bipolar effect. ανά Karandikar, S.K

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Technology mapping for SOI domino logic incorporating solutions for the parasitic bipolar effect.

Εργαλεία αναζήτησης: