Εμφανίζονται 1 - 6 Αποτελέσματα από 6 για την αναζήτηση '"Test data compression."', χρόνος αναζήτησης: 0,02δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    A unified approach to reduce SOC test data volume, scan power and testing time. ανά Chandra, A.

    Άρθρο

    A unified approach to reduce SOC test data volume, scan power and testing time.
  2. 2

    Synchronization overhead in SOC compressed test. ανά Gonciari, P.T

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Synchronization overhead in SOC compressed test.
  3. 3

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. ανά Jas, A.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  4. 4

    Test slice difference technique for low-transition test data compression. ανά Rau, Jiann-Chyi

    Τόπος έκδοσης Journal of Applied Science and Engineering
    Άρθρο

    Test slice difference technique for low-transition test data compression.
  5. 5

    Nine-coded compression technique for testing embedded cores in SoCs. ανά Tehranipoor, M.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Nine-coded compression technique for testing embedded cores in SoCs.
  6. 6

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. ανά Jas, A.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

Εργαλεία αναζήτησης: