Εμφανίζονται 1 - 3 Αποτελέσματα από 3 για την αναζήτηση '"Test cost reduction."', χρόνος αναζήτησης: 0,01δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    SOC test planning using virtual test access architectures. ανά Sehgal, A.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    SOC test planning using virtual test access architectures.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. ανά Jas, A.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Low-power scan design using first-level supply gating. ανά Bhunia, S.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Low-power scan design using first-level supply gating.

Εργαλεία αναζήτησης: