Εμφανίζονται 1 - 2 Αποτελέσματα από 2 για την αναζήτηση '"Synchronous sequential circuits."', χρόνος αναζήτησης: 0,01δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    Reverse-order-restoration-based static test compaction for synchronous sequential circuits. ανά Ruifeng Guo

    Άρθρο

    Reverse-order-restoration-based static test compaction for synchronous sequential circuits.
  2. 2

    Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs. ανά Pomeranz, I.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs.

Εργαλεία αναζήτησης: