Εμφανίζονται 1 - 2 Αποτελέσματα από 2 για την αναζήτηση '"Safe transistor operation region."', χρόνος αναζήτησης: 0,02δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    Impact ionization measurements and modeling for power PHEMT. ανά Baksht, T.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on electron devices
    Άρθρο
  2. 2

    Impact ionization measurements and modeling for power PHEMT. ανά Baksht, T.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on electron devices
    Άρθρο

Εργαλεία αναζήτησης: