Εμφανίζονται 1 - 2 Αποτελέσματα από 2 για την αναζήτηση '"Parasitic effects."', χρόνος αναζήτησης: 0,02δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    A 1.5-V 14-bit 100-MS ανά Yonghua Cong

    Τόπος έκδοσης IEEE Journal of solid state circuits
    Άρθρο

    A 1.5-V 14-bit 100-MS
  2. 2

    Study of trapping phenomenon in 4H-SiC MESFETs dependence on substrate purity. ανά Sghaier, N.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on electron devices
    Άρθρο

    Study of trapping phenomenon in 4H-SiC MESFETs dependence on substrate purity.

Εργαλεία αναζήτησης: