Εμφανίζονται 1 - 1 Αποτελέσματα από 1 για την αναζήτηση '"Frequency domain characterization."', χρόνος αναζήτησης: 0,02δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    A jitter characterization system using a component-invariant Vernier delay line. ανά Chan, A.H

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    A jitter characterization system using a component-invariant Vernier delay line.

Εργαλεία αναζήτησης: