Εμφανίζονται 1 - 3 Αποτελέσματα από 3 για την αναζήτηση '"External testing."', χρόνος αναζήτησης: 0,02δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    Testing the monster chip. ανά Zorian, Y.

    Τόπος έκδοσης IEEE spectrum
    Άρθρο

    Testing the monster chip.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. ανά Jas, A.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. ανά Jas, A.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

Εργαλεία αναζήτησης: