Εμφανίζονται 1 - 5 Αποτελέσματα από 5 για την αναζήτηση '"Electrical characteristics."', χρόνος αναζήτησης: 0,01δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    Study of trapping phenomenon in 4H-SiC MESFETs dependence on substrate purity. ανά Sghaier, N.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on electron devices
    Άρθρο
  2. 2
  3. 3

    3-D optical and electrical simulation for CMOS image sensors. ανά Mutoh, H.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on electron devices
    Άρθρο
  4. 4
  5. 5

Εργαλεία αναζήτησης: