Εμφανίζονται 1 - 2 Αποτελέσματα από 2 για την αναζήτηση '"Design for testability technique."', χρόνος αναζήτησης: 0,02δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    Testing ASICs with multiple identical cores. ανά Yuejian Wu

    Άρθρο

    Testing ASICs with multiple identical cores.
  2. 2

    Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs. ανά Pomeranz, I.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs.

Εργαλεία αναζήτησης: