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Suchergebnisse - "Design for testability technique."
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Testing ASICs with multiple identical cores.
von
Yuejian Wu
Veröffentlicht in
IEEE Transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
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Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs.
von
Pomeranz, I.
Veröffentlicht in
IEEE Transactions on VLSI systems
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Pomeranz, I.
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Yuejian Wu
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Artikel
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English
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