Zobrazuji výsledky 1 - 3 z 3 pro vyhledávání '"Test cost reduction."', doba hledání: 0,01 s. Upřesnit hledání
  1. 1

    SOC test planning using virtual test access architectures. Autor Sehgal, A.

    Článek

    SOC test planning using virtual test access architectures.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. Autor Jas, A.

    Článek

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Low-power scan design using first-level supply gating. Autor Bhunia, S.

    Článek

    Low-power scan design using first-level supply gating.

Vyhledávací nástroje: