Mostrar
1 - 2
resultats de
2
per cerca '
"Design for testability technique."
'
Anar al contingut
UPFind
Bossa de llibres:
0
ítems
(Complet)
Idioma
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Trobar
Avançada
Resultats de la cerca - "Design for testability technique."
Mostrar
1 - 2
resultats de
2
per cerca '
"Design for testability technique."
'
, hora de la petició: 0.02sec
Refinar resultats
Ordenar
Rellevància
Newest to Oldest
Oldest to Newest
Autor
Títol
Select Page
Correu electrònic
Exportar
Imprimir
Afegir a la bossa
Selecciona el número de resultat 1
1
Testing ASICs with multiple identical cores.
per
Yuejian Wu
Publicat a
IEEE Transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Signatura:
loading...
Localitzat:
loading...
Article
loading...
Afegir a la bossa
Eliminar de la bossa de llibres
Selecciona el número de resultat 2
2
Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs.
per
Pomeranz, I.
Publicat a
IEEE Transactions on VLSI systems
Signatura:
loading...
Localitzat:
loading...
Article
loading...
Afegir a la bossa
Eliminar de la bossa de llibres
Select Page
Correu electrònic
Exportar
Imprimir
Afegir a la bossa
Eines de cerca:
Enviar per correu electrònic aquesta cerca
Back
Refinar resultats
La pàgina es tornarà a carregar quan es seleccioni o exclueixi un filtre.
DATABASE
Union Catalog (Buklod)
2 results
2
AUTHOR
Pomeranz, I.
1 results
1
Yuejian Wu
1 results
1
RESOURCE TYPE
Article
2 results
2
LANGUAGE
English
2 results
2
TUKLAS
: UP Libraries' Resource Discovery Tool
Copyright © 2020-2021. The University Library, University of the Philippines Diliman