প্রদর্শন 1 - 2 ফলাফল এর 2 অনুসন্ধানের জন্য '"Design for testability technique."', জিজ্ঞাসা করার সময়: 0.02সেকেন্ড ফলাফল পরিমার্জন করুন
  1. 1

    Testing ASICs with multiple identical cores. অনুযায়ী Yuejian Wu

    প্রবন্ধ

    Testing ASICs with multiple identical cores.
  2. 2

    Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs. অনুযায়ী Pomeranz, I.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs.

অনুসন্ধান সাধনীগুলি: