يعرض 1 - 3 نتائج من 3 نتيجة بحث عن '"Test cost reduction."', وقت الاستعلام: 0.02s تنقيح النتائج
  1. 1

    SOC test planning using virtual test access architectures. حسب Sehgal, A.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال

    SOC test planning using virtual test access architectures.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. حسب Jas, A.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Low-power scan design using first-level supply gating. حسب Bhunia, S.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال

    Low-power scan design using first-level supply gating.

أدوات البحث: