يعرض 1 - 3 نتائج من 3 نتيجة بحث عن '"External testing."', وقت الاستعلام: 0.02s تنقيح النتائج
  1. 1

    Testing the monster chip. حسب Zorian, Y.

    الحاوية / القاعدة IEEE spectrum
    مقال

    Testing the monster chip.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. حسب Jas, A.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. حسب Jas, A.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

أدوات البحث: