Εμφανίζονται
1 - 4
Αποτελέσματα από
4
για την αναζήτηση '
'
Μετάβαση στο περιεχόμενο
UPFind
Καλάθι βιβλίων:
0
τεκμήρια
(Γεμάτο καλάθι)
Γλώσσα
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Αναζήτηση
Σύνθετη
Η σελίδα θα φορτωθεί εκ νέου όταν αφαιρεθεί ένα φίλτρο
Φίλτρα που έχουν εφαρμοστεί:
SUBJECT:
Αφαίρεση Φίλτρου
Wafer-scale integration
Η σελίδα θα φορτωθεί εκ νέου όταν αφαιρεθεί ένα φίλτρο
Εμφάνιση φίλτρων (1)
SUBJECT:
Αφαίρεση Φίλτρου
Wafer-scale integration
Αποτελέσματα αναζήτησης
Εμφανίζονται
1 - 4
Αποτελέσματα από
4
για την αναζήτηση '
'
, χρόνος αναζήτησης: 0,01δλ
Περιορισμός αποτελεσμάτων
Ταξινόμηση
Ανά σχετικότητα
Newest to Oldest
Oldest to Newest
Ανά συγγραφέα
Ανά Τίτλο
Select Page
Email
Εξαγωγή
Εκτύπωση
Προσθήκη στο καλάθι
Επιλογή αποτελέσματος με αριθμό 1
1
Ultra-thin chip technology and applications
Έκδοση 2011
Ταξιθετικός Αριθμός:
loading...
Βρίσκεται σε:
loading...
Available for the University of the Philippines Diliman via SpringerLink. Click here to access
Electronic Resource
Προσθήκη στο καλάθι
Αφαίρεση από το καλάθι
Επιλογή αποτελέσματος με αριθμό 2
2
Manufacturing yield evaluation of VLSI/WSI systems
Έκδοση 1995
Ταξιθετικός Αριθμός:
loading...
Βρίσκεται σε:
loading...
Βιβλίο
loading...
Προσθήκη στο καλάθι
Αφαίρεση από το καλάθι
Επιλογή αποτελέσματος με αριθμό 3
3
Handbook of quality integrated circuit manufacturing
ανά
Zorich, Robert
Έκδοση 1991
Ταξιθετικός Αριθμός:
loading...
Βρίσκεται σε:
loading...
Available for University of the Philippines System via ScienceDirect. Click here to access
Also available remotely for University of the Philippines System via ScienceDirect. Click here to access thru EZproxy
Electronic Resource
Προσθήκη στο καλάθι
Αφαίρεση από το καλάθι
Επιλογή αποτελέσματος με αριθμό 4
4
Phenomenological study of thermal aging effects on intermetallic growth mechanisms and shear strength behavior of wafer level solder bumps
ανά
Amistoso, Jose Omar S.
Ταξιθετικός Αριθμός:
loading...
Βρίσκεται σε:
loading...
Thesis
loading...
Προσθήκη στο καλάθι
Αφαίρεση από το καλάθι
Select Page
Email
Εξαγωγή
Εκτύπωση
Προσθήκη στο καλάθι
Εργαλεία αναζήτησης:
Αποστολή αναζήτησης με email
Πίσω
Περιορισμός αποτελεσμάτων
Η σελίδα θα φορτωθεί εκ νέου όταν επιλεγεί ή αποεπιλεγεί κάποιο φίλτρο.
CAMPUS
Diliman
4 αποτελέσματα
4
DATABASE
Union Catalog (Buklod)
4 αποτελέσματα
4
UNIT LIBRARY
College of Engineering Library II
3 αποτελέσματα
3
Diliman Main Library: Info. Services & Instruction Section
1 αποτελέσματα
1
Diliman Main Library: University Archives
1 αποτελέσματα
1
YEAR OF PUBLICATION
από:
έως:
CLASSIFICATION
L - Εκπαίδευση
1 αποτελέσματα
1
T - Τεχνολογία
1 αποτελέσματα
1
SUBJECT
Integrated circuits
4 αποτελέσματα
4
Wafer-scale integration
Design and construction
3 αποτελέσματα
3
Electronic books
2 αποτελέσματα
2
Data processing
1 αποτελέσματα
1
Fault tolerance
1 αποτελέσματα
1
Handbooks, manuals, etc
1 αποτελέσματα
1
Reliability
1 αποτελέσματα
1
Shear (Mechanics)
1 αποτελέσματα
1
Solder and soldering
1 αποτελέσματα
1
Very large scale integration
1 αποτελέσματα
1
Προβολή όλων…
AUTHOR
Amistoso, Jose Omar S.
1 αποτελέσματα
1
Burghartz, Joachim N.
1 αποτελέσματα
1
Ciciani, Bruno
1 αποτελέσματα
1
SpringerLink (Online service)
1 αποτελέσματα
1
Zorich, Robert
1 αποτελέσματα
1
RESOURCE TYPE
Electronic Resource
2 αποτελέσματα
2
Βιβλίο
1 αποτελέσματα
1
Thesis
1 αποτελέσματα
1
LANGUAGE
English
4 αποτελέσματα
4
TUKLAS
: UP Libraries' Resource Discovery Tool
Copyright © 2020-2021. The University Library, University of the Philippines Diliman