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Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems
von
Ibe, Eishi H.
Veröffentlicht 2015
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Available for University of the Philippines Diliman via Wiley Online Library. Click here to access
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Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
von
Tan, Cher Ming
Veröffentlicht 2011
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Analysis and design of digital integrated circuits in deep submicron technology
von
Hodges, David A. 1937-
Veröffentlicht 2004
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ULSI technology
Veröffentlicht 1996
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CAMPUS
Diliman
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DATABASE
Union Catalog (Buklod)
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UNIT LIBRARY
College of Engineering Library II
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Diliman Main Library: Info. Services & Instruction Section
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YEAR OF PUBLICATION
Von:
Bis:
CLASSIFICATION
T - Ingenieurwissenschaften
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SUBJECT
Integrated circuits
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Ultra large scale integration
Electronic books
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Design and construction
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Digital integrated circuits
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Effect of radiation on
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Electric circuit analysis
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1
Electronic circuits
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Finite element method
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Mathematical models
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Reliability
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Reliability (Engineering)
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AUTHOR
Chang, C. Y.
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Hodges, David A. 1937-
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Ibe, Eishi H.
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Jackson, Horace G.
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Saleh, Resve A. 1957-
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1
SpringerLink (Online service)
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Sze, S.M
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1
Tan, Cher Ming
1 Treffer
1
Tan, Cher Ming 1959-
1 Treffer
1
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RESOURCE TYPE
Buch
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Electronic Resource
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LANGUAGE
English
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