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Power reduction techniques and BIST implementation on a DLX microprocessor using a 90nm CMOS process
par
Agbayani, Jay-ar Anacleto
Publié 2010
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Tutorial test generation for VLSI chips
Publié 1988
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Automatic testing and evaluation of digital integrated circuits
par
Healy, James Thomas 1940-
Publié 1981
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Power optimized partial scan BIST implementation on DLX microprocessor
par
Buenaventura, Arvi D.
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College of Science and Mathematics
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À:
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T - Technologie
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SUBJECT
Automatic test equipment
Testing
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3
Microprocessors
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Digital integrated circuits
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Integrated circuits
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Agbayani, Jay-ar Anacleto
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Healy, James Thomas 1940-
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