Erakusten
1 - 1
emaitzak --
1
bilaketa honetara '
'
Joan edukira
UPFind
0
itemes
(Completo)
Hizkuntza
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Bilatu
Aurreratua
UNIT LIBRARY:
Asian Institute of Tourism
CLASSIFICATION:
T - Teknologia
SUBJECT:
Fashion designers
ETA
History
ETA
Private collections
Show filters (5)
UNIT LIBRARY:
Asian Institute of Tourism
CLASSIFICATION:
T - Teknologia
SUBJECT:
Fashion designers
ETA
History
ETA
Private collections
Bilaketaren emaitzak
Erakusten
1 - 1
emaitzak --
1
bilaketa honetara '
'
, Bilaketaren denbora: 0,01s
Findu emaitzak
Antolatu
Garrantzia
Newest to Oldest
Oldest to Newest
Egilea
Izenburua
Orrialdea aukeratu | Con selección:
Posta elektronikoa
Esportatu
Imprimir
Gehitu Liburu Saskira
Aukera ezazu emaitza-zenbakia1
1
Royalty & elegance selections from the Pat Kerr Collection : an exhibition organized by the Tennessee State Museum : November 15, 2002-January 26, 2003
Argitaratua 2002
Sailkapena:
Lanean...
Kokapena:
Lanean...
Liburua
Lanean...
Gehitu Liburu Saskira
Eliminar de la Mochila
Orrialdea aukeratu | Con selección:
Posta elektronikoa
Esportatu
Imprimir
Gehitu Liburu Saskira
Bilaketa egiteko lanabesak:
RSS
—
Emaitzak posta elektronikoz bidali
Atzera
Emaitzak murriztu
CAMPUS
Diliman
1
DATABASE
Union Catalog (Buklod)
1
UNIT LIBRARY
Asian Institute of Tourism
YEAR OF PUBLICATION
De:
a:
CLASSIFICATION
T - Teknologia
SUBJECT
Clothing and dress
1
Collectors and collecting
1
Fashion
1
Fashion designers
Handkerchiefs
1
History
Lace and lace making
1
Private collections
Guztiak ikusi ...
AUTHOR
Adelson, C.
1
Tennessee State Museum
1
RESOURCE TYPE
Liburua
1
LANGUAGE
English
1
TUKLAS
: UP Libraries' Resource Discovery Tool
Copyright © 2020-2021. The University Library, University of the Philippines Diliman
Lanean...