Showing
1 - 1
results of
1
for search '
'
Skip to content
UPFind
0
פריטים
(מלא)
שפה
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
מצא
מתקדם
AUTHOR:
Cherns, David
UNIT LIBRARY:
College of Engineering Library I
RESOURCE TYPE:
ספר
SUBJECT:
Technique
Show filters (4)
AUTHOR:
Cherns, David
UNIT LIBRARY:
College of Engineering Library I
RESOURCE TYPE:
ספר
SUBJECT:
Technique
תוצאות חיפוש
Showing
1 - 1
results of
1
for search '
'
, זמן שאילתה: 0.01s
Refine Results
מיון
רלוונטיות
Newest to Oldest
Oldest to Newest
מחבר
כותר
בחירת עמוד | עם פריטים מסומנים:
דואל
יצוא
הדפסה
הוספה לילקוט
Select result number 1
1
Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy
יצא לאור 1989
סימן המיקום:
טוען...
ממוקם:
טוען...
ספר
טוען...
הוספה לילקוט
הסרה מילקוט
בחירת עמוד | עם פריטים מסומנים:
דואל
יצוא
הדפסה
הוספה לילקוט
כלי חיפוש:
קבל רסס (RSS)
—
שליחת חיפוש דרך דואל
חזרה
צמצם חיפוש
CAMPUS
Diliman
1
DATABASE
Union Catalog (Buklod)
1
UNIT LIBRARY
College of Engineering Library I
YEAR OF PUBLICATION
מ:
אל:
CLASSIFICATION
Q - Science
1
SUBJECT
Diffraction
1
Electron microscopy
1
Electrons
1
Semiconductors
1
Surfaces
1
Technique
AUTHOR
Cherns, David
NATO Advanced Research Workshop on the Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy (1988 : Bristol, England)
1
North Atlantic Treaty Organization. Scientific Affairs Division
1
Special Program on Condensed Systems of Low Dimensionality (NATO)
1
RESOURCE TYPE
ספר
LANGUAGE
English
1
TUKLAS
: UP Libraries' Resource Discovery Tool
Copyright © 2020-2021. The University Library, University of the Philippines Diliman
טוען...