Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits

Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Jayanthy, S. (Tác giả), Bhuvaneswari, M.C (Tác giả)
Tác giả của công ty: SpringerLink (Online service)
Định dạng: Electronic Resource
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Singapore Springer [2019]
Phiên bản:First edition.
Những chủ đề:
Computer software-Reusability.
Electronic circuits.
Logic design.
Microprogramming.
Electronic books.
Truy cập trực tuyến:Available for University of the Philippines Diliman via SpringerLink. Click here to access
Also available remotely for University of the Philippines Diliman via SpringerLink. Click here to access thru EZproxy