Mrozek, I. (2019). Multi-run memory tests for pattern sensitive faults (First edition.). Springer International Publishing. https://doi.org/10.1007/978-3-319-91204-2
Citace podle Chicago (17th ed.)Mrozek, Ireneusz. Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults. First edition. Cham: Springer International Publishing, 2019. https://doi.org/10.1007/978-3-319-91204-2.
Citace podle MLA (9th ed.)Mrozek, Ireneusz. Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults. First edition. Springer International Publishing, 2019. https://doi.org/10.1007/978-3-319-91204-2.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..