Testing of interposer-based 2.5D integrated circuits

Testing of interposer-based 2.5D integrated circuits

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Wang, Ran (Συγγραφέας), Chakrabarty, Krishnendu (Συγγραφέας)
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Μορφή: Electronic Resource
Γλώσσα:English
Έκδοση: Cham Springer [2017]
Θέματα:
Integrated circuits.
Electronic books.
Διαθέσιμο Online:Available for University of the Philippines System via SpringerLink. Click here to access
Also available remotely for University of the Philippines System via SpringerLink. Click here to access thru EZproxy