Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Echlin, Patrick (Author)
פורמט: Electronic Resource
שפה:English
יצא לאור: New York Springer Science+Business Media [2009]
נושאים:
גישה מקוונת:Available for University of the Philippines System via SpringerLink. Click here to access
Also available remotely for University of the Philippines System via SpringerLink. Click here to access thru EZproxy