Fundamentals of modern VLSI devices

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Taur, Yuan 1946-
Otros Autores:	Ning, Tak H. 1943-
Formato:	Libro
Lenguaje:	English
Publicado:	New York Cambridge University Press 2009.
Edición:	2nd ed.
Materias:	Metal oxide semiconductors, Complementary. Bipolar transistors. Integrated circuits > Very large scale integration.