Meeker, W. Q. More pitfalls of accelerated tests. Journal of Quality Technology.
Chicago-viite (17. p.)Meeker, William Q. "More Pitfalls of Accelerated Tests." Journal of Quality Technology .
MLA-viite (9. p.)Meeker, William Q. "More Pitfalls of Accelerated Tests." Journal of Quality Technology, .
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.