Danila, O., Steiner, S. H., & Mackay, R. J. Assessing a binary measurement system with varying misclassification rates using a latent class random effects model. Journal of Quality Technology.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Danila, Oana, Stefan H. Steiner, i R. Jock Mackay. "Assessing a Binary Measurement System with Varying Misclassification Rates Using a Latent Class Random Effects Model." Journal of Quality Technology .
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Danila, Oana, et al. "Assessing a Binary Measurement System with Varying Misclassification Rates Using a Latent Class Random Effects Model." Journal of Quality Technology, .
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..