Shang, Y. Profile monitoring with binary data and random predictors. Journal of Quality Technology.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology .
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology, .
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.