Shang, Y. Profile monitoring with binary data and random predictors. Journal of Quality Technology.
Chicago-referens (17:e uppl.)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology .
MLA-referens (9:e uppl.)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology, .
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.