Shang, Y. Profile monitoring with binary data and random predictors. Journal of Quality Technology.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology .
Цитирование MLA (9-е изд.)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology, .
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.