Shang, Y. Profile monitoring with binary data and random predictors. Journal of Quality Technology.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology .
Citação MLA (9ª ed.)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology, .
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