Shang, Y. Profile monitoring with binary data and random predictors. Journal of Quality Technology.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology .
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology, .
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..