Shang, Y. Profile monitoring with binary data and random predictors. Journal of Quality Technology.
Chicago-viite (17. p.)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology .
MLA-viite (9. p.)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology, .
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.