Shang, Y. Profile monitoring with binary data and random predictors. Journal of Quality Technology.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology .
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology, .
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.