Shang, Y. Profile monitoring with binary data and random predictors. Journal of Quality Technology.
Citace podle Chicago (17th ed.)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology .
Citace podle MLA (9th ed.)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology, .
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..