Shang, Y. Profile monitoring with binary data and random predictors. Journal of Quality Technology.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology .
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Shang, Yanfen. "Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors." Journal of Quality Technology, .
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.