Sharma, A. Accurate Prediction of Substrate Parasitics in Heavily Doped CMOS Processes Using a Calibrated Boundary Element Solver. IEEE Transactions on VLSI systems.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Sharma, A. "Accurate Prediction of Substrate Parasitics in Heavily Doped CMOS Processes Using a Calibrated Boundary Element Solver." IEEE Transactions on VLSI Systems .
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Sharma, A. "Accurate Prediction of Substrate Parasitics in Heavily Doped CMOS Processes Using a Calibrated Boundary Element Solver." IEEE Transactions on VLSI Systems, .
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.