Citação APA (7ª ed.)

Chatterjee, B. Design of a 1.7-GHz low-power delay-fault-testable 32-b ALU in 180-nm CMOS technology. IEEE Transactions on VLSI systems.

Citação do estilo Chicago (17ª ed.)

Chatterjee, B. "Design of a 1.7-GHz Low-power Delay-fault-testable 32-b ALU in 180-nm CMOS Technology." IEEE Transactions on VLSI Systems .

Citação MLA (9ª ed.)

Chatterjee, B. "Design of a 1.7-GHz Low-power Delay-fault-testable 32-b ALU in 180-nm CMOS Technology." IEEE Transactions on VLSI Systems, .

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