توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)

Bogaerts, J. Total dose and displacement damage effects in a radiation-hardened CMOS APS. IEEE Transactions on electron devices.

توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)

Bogaerts, J. "Total Dose and Displacement Damage Effects in a Radiation-hardened CMOS APS." IEEE Transactions on Electron Devices .

توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)

Bogaerts, J. "Total Dose and Displacement Damage Effects in a Radiation-hardened CMOS APS." IEEE Transactions on Electron Devices, .