Bogaerts, J. Total dose and displacement damage effects in a radiation-hardened CMOS APS. IEEE Transactions on electron devices.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Bogaerts, J. "Total Dose and Displacement Damage Effects in a Radiation-hardened CMOS APS." IEEE Transactions on Electron Devices .
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Bogaerts, J. "Total Dose and Displacement Damage Effects in a Radiation-hardened CMOS APS." IEEE Transactions on Electron Devices, .
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.