Bogaerts, J. Total dose and displacement damage effects in a radiation-hardened CMOS APS. IEEE Transactions on electron devices.
Citace podle Chicago (17th ed.)Bogaerts, J. "Total Dose and Displacement Damage Effects in a Radiation-hardened CMOS APS." IEEE Transactions on Electron Devices .
Citace podle MLA (9th ed.)Bogaerts, J. "Total Dose and Displacement Damage Effects in a Radiation-hardened CMOS APS." IEEE Transactions on Electron Devices, .
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..