Sawada, K. Elimination of kink phenomena and drain current hysteresis in InP-based HEMTs with a direct ohmic structure. IEEE Transactions on electron devices.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Sawada, K. "Elimination of Kink Phenomena and Drain Current Hysteresis in InP-based HEMTs with a Direct Ohmic Structure." IEEE Transactions on Electron Devices .
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Sawada, K. "Elimination of Kink Phenomena and Drain Current Hysteresis in InP-based HEMTs with a Direct Ohmic Structure." IEEE Transactions on Electron Devices, .
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..