Runyon, S. Testing big chips becomes an internal affair. IEEE spectrum.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Runyon, S. "Testing Big Chips Becomes an Internal Affair." IEEE Spectrum .
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Runyon, S. "Testing Big Chips Becomes an Internal Affair." IEEE Spectrum, .
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.