Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits

Εμφάνιση όλων των εκδόσεων (2)
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Bushnell, Michael L. (Michael Lee) 1950-
Άλλοι συγγραφείς: Agrawal, Vishwani D. 1943-
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York, N.Y. Springer c2000.
Θέματα:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Digital integrated circuits > Testing.
Mixed signal circuits > Testing.
Semiconductor storage devices > Testing.
Διαθέσιμο Online:Also available online for University of the Philippines Diliman College of Engineering via Springer. Click here to access