Physical measurement and analysis of thin films QD71 .

Physical measurement and analysis of thin films QD71 .

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Guldner, W. G.
Aineistotyyppi: Kirja
Kieli:English
Julkaistu: New York Plenum Press 1969.
Aiheet:
Thin films > Addresses, essays, lectures.