Process engineering analysis in semiconductor device fabrication

Process engineering analysis in semiconductor device fabrication

Pokaż wszystkie wersje (2)
Opis bibliograficzny
1. autor: Middleman, Stanley
Kolejni autorzy: Hochberg, Arthur K.
Format: Książka
Język:English
Wydane: New York McGraw-Hill c1993.
Hasła przedmiotowe:
Semiconductors > Design and construction.