Process engineering analysis in semiconductor device fabrication

Process engineering analysis in semiconductor device fabrication

Näytä kaikki versiot (2)
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Middleman, Stanley
Muut tekijät: Hochberg, Arthur K.
Aineistotyyppi: Kirja
Kieli:English
Julkaistu: New York McGraw-Hill c1993.
Aiheet:
Semiconductors > Design and construction.