Lanjouw, J. O., Pakes, A., & Putnam, J. How to count patents and value intellectual property: Uses of patent renewal and application data. National Bureau of Economic Research.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Lanjouw, Jean O., Ariel Pakes, και Jonathan Putnam. How to Count Patents and Value Intellectual Property: Uses of Patent Renewal and Application Data. Cambridge, no.5741: National Bureau of Economic Research.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)Lanjouw, Jean O., et al. How to Count Patents and Value Intellectual Property: Uses of Patent Renewal and Application Data. National Bureau of Economic Research.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.