Hot-carrier effects in MOS devices

Hot-carrier effects in MOS devices

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Takeda, Eiji 1944-
Tác giả khác: Yang, C. Y.-W. 1948- (Cary Y. -W.), Miura-Hamada, Akemi
Định dạng: Sách
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: San Diego Academic Press c1995.
Những chủ đề:
Metal oxide semiconductors.
Hot carriers.