Hot-carrier effects in MOS devices

Библиографические подробности
Главный автор:	Takeda, Eiji 1944-
Другие авторы:	Yang, C. Y.-W. 1948- (Cary Y. -W.), Miura-Hamada, Akemi
Формат:	‌
Язык:	English
Опубликовано:	San Diego Academic Press c1995.
Предметы:	Metal oxide semiconductors. Hot carriers.